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紅外導引、控制測試系統

紅外導引、控制測試系統

更新時(shí)間：2023-08-18

簡(jiǎn)要描述：

紅外導引、控制測試系統可以檢測各種紅外頭快速更換的優(yōu)點(diǎn)。由于它是紅外全波段的工作，因此可以適用于各種紅外制導的檢測工作。

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產(chǎn)品介紹：

紅外導引、控制測試系統簡(jiǎn)介

可以檢測各種紅外頭的快速更換的優(yōu)點(diǎn)。由于它是紅外全波段的工作，因此可以適用于各種紅外制導的檢測工作。

導引頭的跟蹤精度是由導引頭引起的瞄準誤差。提高紅外成像導引頭的跟蹤精度就是要減小導引頭系統的靜差。導引頭跟蹤精度越高，系統的靜差越小，導引準確性就越高，制導精度也就越高。大跟蹤角速度也就是紅外成像導引頭的重要性能指標之一。

紅外導引、控制測試系統技術(shù)規格

焦距	f′=320mm
口徑	D=Φ68mm
工作波段	λ=1～12μm
黑體有效溫控范圍	50～500℃
目標擺動(dòng)范圍	2ω=±30º
目標歸零	±0.1º

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