短波焦平面探測器用于的聚焦模式測試

 

　　短波焦平面探測器的黑體源，積分球光源和光學(xué)器件可以快速的重新配置來(lái)進(jìn)行泛光照明模式、聚焦模式、準直光模式測試。MTF、串擾、點(diǎn)掃描和D*測試是非常和可復現的。短波焦平面探測器精密的平臺結構可以消除多個(gè)測試設備的布局和光路準直帶來(lái)的誤差。

　　

　　短波焦平面探測器用于的聚焦模式測試：

　　

　　在聚焦模式測試中，短波焦平面探測器可以將紅外照射的小孔或靶標聚焦在探測器的某個(gè)像素上面。典型的聚焦模式測試項包含串擾,點(diǎn)掃描、調制傳遞函數。高溫腔式黑體和低溫面源黑體都可以作為短波焦平面探測器的紅外光源，積分球光源作為可見(jiàn)光源。

　　

　　短波焦平面探測器用于的泛光照明模式測試：

　　

　　在泛光照明模式測試中，短波焦平面探測器用未聚焦的面源黑體或高溫腔式黑體輻射線(xiàn)照射探測器。泛光照明模式測試項包含響應率、噪聲、均勻性、探測靈敏度、線(xiàn)性度。輻射源的位置是用短波焦平面探測器帶有刻度的光學(xué)精密軌道和快速可調的運動(dòng)支架來(lái)設定的，以此來(lái)達到準確控制輻照度的目的。

　　

　　短波焦平面探測器用于的準直模式測試

　　

　　泛光照明模式和聚焦模式是測試非成像光學(xué)傳感器或系統的。短波焦平面探測器可以通過(guò)加裝平行光管來(lái)實(shí)現成像系統的性能測試，這用溫差面源黑體和靶輪或腔式黑體和光闌經(jīng)過(guò)平行光管投射到被測成像系統。準直模式測試項包括系統級的調制傳遞函數、信號傳遞函數、噪聲等效溫差和小可分辨溫差等，使用準直模式下的短波焦平面探測器可以省去購買(mǎi)獨立的紅外目標模擬器的費用。